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實(shí)驗室顯微XRF元素分析儀——樣品無(wú)損傷痕量元素分析
更新時(shí)間:2017-07-05
訪(fǎng)問(wèn)次數:2466
適用于各種樣品的無(wú)損傷元素分析,如土壤、礦石、木材、海洋湖泊沉積等等的元素含量和分布成像。
產(chǎn)品介紹
一、
原理:
X
光熒光技術(shù)(
X
-
Ray Fluorescence
)
二、
應用:
適用于各種樣品的無(wú)損傷元素分析,如土壤、礦石、木材、海洋湖泊沉積等等的元素含量和分布成像,樣品zui大可達
25x30cm
,分辨率達
ppm
級。分析元素包括由鈉元素到重金屬元素等所有元素。通過(guò)軟件還可以進(jìn)行點(diǎn)、線(xiàn)、面積分布分析、相關(guān)分析及圖象處理。下圖左為巖石正常照片(
15x10cm
),右圖為元素分布圖(紅色為硅元素,蘭色為鍶元素,綠色為鐵元素)。
三、產(chǎn)地:
瑞典
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